Home
Tecnica del plasma
Glossario
FAQ
Impianti al plasma
Servizio
Agenti
Referenze
Fiere
Contatti
Dove siamo
Chi siamo
Download
[ AFM ]
Acronimo per Atomic Force Microscopy. Metodo di analisi delle superfici, nel quale la superficie viene analizzata da un ago estremamente fine su un'angolazione molto fine. Attraverso la misurazione delle forze tra l'ago e la superficie, è possibile farsi un’idea molto precisa della struttura superficiale.
Home
|
Tecnica del plasma
|
Glossario
|
FAQ
|
Impianti a plasma
|
Affitto macchine
|
Trattamenti per conto terzi
|
Consulenza/Assistenza
|
Agenti
|
Referenze
|
Download
|
Fiere
|
Contatti
|
Dove siamo
|
Chi siamo
|
Note legali
© 2012 Diener electronic GmbH + Co. KG