Home
Tecnica del plasma
Glossario
FAQ
Impianti a plasma
Servizio
Agenti
Referenze
Fiere
Contatti
Dove siamo
Chi siamo
Download
[ TOF-SIMS ]
Acronimo per Time of Flight Secondary Ion Mass Spectrometry, metodo di analisi superficiale, durante il quale la superficie viene bombardata da raggi ionici pulsanti. Dal tempo di volo degli ioni secondari emessi è possibile determinare con precisione la loro massa e cella.
Home
|
Tecnica del plasma
|
Glossario
|
FAQ
|
Impianti a plasma
|
Affitto macchine
|
Trattamenti per conto terzi
|
Consulenza/Assistenza
|
Agenti
|
Referenze
|
Download
|
Fiere
|
Contatti
|
Dove siamo
|
Chi siamo
|
Note legali
© 2012 Diener electronic GmbH + Co. KG